产品和材料结构剖析

项目 技术/方法
产品及部件主要结构和材料分析

X-Section/CP/FIB/SEM-EDS/TEM/XPS/FTIR etc

聚合物材料成分剖析 FTIR/ RAMAN/ GC-PY/ TGA/ TMA / TOF-SIMS
金属材料材质确认 EDS/ XRF/ XPS/ XRD
复合材料成分剖析

FTIR/ EDS/ XPS/ TOF-SIMS

混合材料的定性定量分析

FTIR/ EDS/ XPS/ TOF-SIMS

材料表面有机和无机镀膜结构和成分分析 X-Section/CP/FIB/SEM-EDS/XPS/FTIR/ TOF-SIMS/ TEM / XRF etc
金属材料金相观察,晶体结构观察等 X-SECTION/ XRD/ SEM-EDS
材料中的杂质和污染物分析

ICP-OES/ICP-MS/ TOF-SIMS/ GDMS/

产品及部件物理缺陷表征(内部和外部) CP/ FIB/ SEM/ TEM
纳米材料形貌及成分表征 SEM/EDS/ TEM/ AES
晶体结构晶格取向 XRD/ EBSD/ TEM